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蔡司扫描电镜新玩法

Dec 04,2021
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蔡司扫描电镜轻松实现关联定位、自动成像和量化分析

在使用扫描电镜的过程中,您是否总是遭遇如下问题:

1. 在不同设备间切换样品时总需耗费大量时间重新定位感兴趣区域

2. 总是为获取大面积高分辨图像而苦恼,需要频繁切换成像参数,调整像散聚焦

3. 得到图像后又在为图像的量化分析而发愁

针对以上的困扰和需求,蔡司对扫描电镜特别推出智能电镜解决方案,解决以上提到的问题,确保您日常检测和分析工作的顺畅与高效。

 

01 关联定位分析

 蔡司Connect模块轻松实现光学显微镜到扫描电镜的桥接,快速实现样品在不同设备间的重新定位,还能统一管理关联设备的数据和信息

  关联定位:通过关联样品台实现样品在不同显微镜设备之间自动关联重定位,大幅缩减操作用时

 数据叠加:自由叠加来自手机,光学显微镜,扫描电镜的信息以及相关能谱信息

 统一管理:管理来自不同关联设备的数据,输出不同信息叠加图像和视频

 
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▲ PCB电路板的关联显微分析(光镜,电镜,能谱信息),左:宏观图像;右:感兴趣位置局部放大

 


                              
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BT高清正常

芯片关联显微分析视频(光镜,共聚焦,电镜)

 

02 自动成像 

蔡司SmartSEM Touch定制软件,全面兼顾参数设置,成像,自动化拼图,图像浏览,实现智能高效的扫描电镜成像

  向导式操作流程,界面简洁,操作简单

 根据样品智能匹配成像参数,实现自动聚焦

 简单操作即可完成高通量图像拍摄和拼接

 

SmartSEM Touch操作界面_1.jpg

SmartSEM Touch操作界面_3.jpgSmartSEM Touch操作界面_2.jpg

▲简洁的SmartSEM Touch操作界面

 

03 量化分析

蔡司ZEN模块实现从电镜图像获取,图像处理,图像分割,自动测量到报告生成的整个量化分析流程

 一键获取扫描电镜图像,向导式的分析工作流程,毫无经验的新手也可轻松掌握

 基于机器学习的ZEN Intellesis模块轻松实现传统阈值方法难以达成的图像处理需求

 丰富的测量功能,如颗粒统计分析,孔隙率,含量百分比,层厚测量,晶粒度评级等

 

量化分析界面-二值化分割.png

▲量化分析界面-二值化分割

 

金属焊接位置孔隙大小分析及含量分析.png

▲金属焊接位置孔隙大小分析及含量分析

 

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▲满足多种测量需求——高级测量               ▲颗粒分析                              ▲晶粒度评级                  


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                      ▲含量百分比                                ▲层厚测量                                  ▲孔隙率分析     

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