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德国布鲁克X射线衍射仪D8 ADVANCE

May 22,2019

布鲁克AXS的D8 ADVANCE X射线衍射仪,通过TWIN-TWIN光路,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让光路互换、重新对光等问题方便解决

测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度

林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,提高设备的使用效率和设备的探测灵敏度。



技术指标                                                

Theta/theta 立式测角仪

2Theta角度范围-110~168°

角度精度0.0001

Cr/Co/Cu标准尺寸光管

探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器

仪器尺寸:1868 x 1300 x 1135 mm

应用

物相定性分析 、物相定量分析

结晶度及非晶相含量分析、结构精修及解析、点阵参数测量

无标样定量分析、微观应变分析、晶粒尺寸分析、原位分析

残余应力、低角度介孔材料测量、织构及ODF分析

薄膜掠入射、薄膜反射率测量、小角散射



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