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布鲁克X射线衍射仪D8 DISCOVER

May 09,2020

布鲁克D8 DISCOVER X射线衍射仪,材料研究领域的X射线衍射系统。配备集成化的DIFFRAC SUITETM软件,附件自动识别、即插即用以及集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以方便的在材料研究领域的不同应用之间切换,包括:反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。

主要应用

高分辨XRD(HRXRD)
外延多层膜厚度
晶胞参数
晶格错配
组份
应变及弛豫过程
横向结构
镶嵌度

X射线反射率(XRR)
薄膜厚度
组份
粗造度
密度
孔隙度

倒易空间图谱(RSM)
晶胞参数
晶格错配
组份
取向
弛豫
横向结构

面内掠入射衍射 (in-plane GID)
掠入射小角X射线散射(GISAXS)
晶胞参数
晶格错配
横向关联性
取向
物相组成
孔隙度

应力和织构分析
取向分布
取向定量
应变
外延关联
硬度

物相鉴定(Phase ID)
物相组成
d值确定

择优取向
晶格对称性
晶粒大小

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